Spring Probes Pogo Pins

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Probe test Probe: projetado para garantir qualidade e confiabilidade, e reduzir o tempo de desenvolvimento e os custos do processo de fabricação do dispositivo.

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Adequado para: Wafer, teste de IC, design de IC, etc.

O conteúdo da inspeção inclui:

1. O sinal leva a pequenos pontos de conexão

2. Falha na análise de confirmação de falha

3. Confirmação das características elétricas após a modificação do circuito FIB

4. Verificação da confiabilidade do wafer

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O alto grau de automação, rompendo a limitação de que o custo de produção é proporcional ao número de contagens de pinos, o que é propício para a produção de cartões de sonda de alta contagem de pinos, que são adequados para alta contagem de pinos (~ 30k pinos / cartão) , teste de curso de compressão de alta corrente e alta sonda.

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A fim de melhorar a qualidade, também preparamos por nós mesmos tratamento térmico de alta qualidade, galvanoplastia e linhas de produção de montagem, e temos o alemão Fisher" X-RAY" medidor de espessura, testador de dureza japonês, projetor e outros equipamentos de teste. Os produtos de alta tecnologia usam berílio americano. Materiais de alta qualidade, como cobre ou SK4 japonês.

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As sondas que produzimos são amplamente utilizadas em ICT, ICT, PCB, FPC e outros equipamentos, bem como testes e outros produtos de comunicação nas áreas de computadores, telecomunicações, automóveis e militares.

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